t.me/knigoprovod Отправить другу/подруге по почте ссылку на эту страницуВариант этой страницы для печатиНапишите нам!Карта сайта!Помощь. Как совершить покупку…
московское время22.05.19 17:38:53
На обложку
Структурная теория распределённых системавторы — Бутковский А. Г.
UNIX. Справочникавторы — Роббинс А.
Говорящие птицыавторы — Ильичёв В. Д., Силаева О. Л.
б у к и н и с т и ч е с к и й   с а й т
Новинки«Лучшие»Доставка и ОплатаМой КнигоПроводЗаказ редких книгО сайте
Книжная Труба   поиск по словам из названия
Авторский каталог
Каталог издательств
Каталог серий
Моя Корзина
Только цены
Рыбалка
Наука и Техника
Математика
Физика
Радиоэлектроника. Электротехника
Инженерное дело
Химия
Геология
Экология
Биология
Зоология
Ботаника
Медицина
Промышленность
Металлургия
Горное дело
Сельское хозяйство
Транспорт
Архитектура. Строительство
Военная мысль
История
Персоны
Археология
Археография
Восток
Политика
Геополитика
Экономика
Реклама. Маркетинг
Философия
Религия
Социология
Психология. Педагогика
Законодательство. Право
Филология. Словари
Этнология
ИТ-книги
O'REILLY
Дизайнеру
Дом, семья, быт
Детям!
Здоровье
Искусство. Культурология
Синематограф
Альбомы
Литературоведение
Театр
Музыка
КнигоВедение
Литературные памятники
Современные тексты
Худ. литература
NoN Fiction
Природа
Путешествия
Эзотерика
Пурга
Спорт

/Наука и Техника/Физика

Интерферометры. Основы инженерной теории, применение — Коломийцов Ю. В.
Интерферометры. Основы инженерной теории, применение
Коломийцов Ю. В.
год издания — 1976, кол-во страниц — 296, тираж — 4700, язык — русский, тип обложки — твёрд. картон, масса книги — 420 гр., издательство — Машиностроение. Лен. отд.
цена: 499.00 рубПоложить эту книгу в корзину
Сохранность книги — хорошая

Р е ц е н з е н т: Ю. П. Ефремов

Формат 60x90 1/16. Бумага типографская №2
ключевые слова — интерфер, контрастност, оптическ, поверхност, преломлен, приборостроител, лазер, голограф, когерентн, компенсатор, ахромат, апохромат, майкельсон, жамен, цендер, френел, коллиматор, фокусиров, шероховатост, твайман, церник, хунцингер, харихаран

В книге рассмотрены вопросы инженерной теории интерферометров, связанные главным образом с исследованием причин, понижающих контрастность интерференционных полос и искажающих их форму. Обоснованы требования к оптическим и механическим узлам интерферометров разных типов. Описаны интерферометры для измерения длин, для контроля формы и микрогеометрии поверхностей, а также для исследования оптических систем, измерения показателей преломления веществ и аэродинамических исследований. Рассмотрены возможные способы повышения чувствительности интерферометров.

Книга предназначена для инженерно-технических работников, занятых разработкой и эксплуатацией интерферометров; она может быть полезна также преподавателям и студентам приборостроительных вузов.

Табл. 7. Ил. 140. Список лит. 161 назв.


Многие точные измерения, роль которых в современной науке к технике, как известно, быстро возрастает, осуществляются интерференционными методами. Для решения ряда задач измерения эти методы единственно возможны. В последние годы область применения интерференционных приборов значительно расширилась благодаря созданию новых источников света (лазеров) и развитию электроники. В связи с разработкой большого числа новых интерферометров важное значение приобретает рассмотрение инженерных вопросов их теории — таких, как исследование причин, снижающих контрастность и искажающих форму интерференционных полос, обоснование требований к оптическим и механическим узлам интерферометров разных типов, к точности установки этих узлов в заданные положения, выявление источников погрешностей измерения и т. д.

Между тем, в изданных ранее книгах М. Ф. Романовой («Интерференция света и её применения», 1937 г.) и А. Н. Захарьевского «Интерферометры», 1952 г.) на многие из этих вопросов нет достаточно полных ответов. Упомянутые книги не содержат, естественно, и сведений о большом числе интерферометров, разработанных за последние десятилетия (в частности, о лазерных и голографических интерферометрах); ничего не говорится в них также о возможностях сочетания интерферометров с фотоэлектрическими устройствами. Поэтому издание новой книги по интерферометрии представляется полезным.

Цель предлагаемой книги заключается в ознакомлении инженерных и научных работников, занятых разработкой и эксплуатацией интерференционных приборов, а также работников измерительных лабораторий заводов, с основами инженерной теории интерферометров и с различными возможностями их применения (измерение длин, контроль формы и микрогеометрии поверхностей, исследование оптических систем и аэродинамических потоков, измерение показателей преломления веществ). Не рассмотрены интерференционные приборы для спектральных исследований, так как описанию этих приборов посвящён ряд монографий, вышедщих в свет в недавнее время; не говорится в книге также о поляризационных интерферометрах для измерения натяжений.

Основу книги составляет обобщение сведений об интерферометрах, содержащихся в журнальной литературе. Наряду с этим дано и новое, впервые проведённое рассмотрение некоторых разделов теории интерферометров. Освещены также вопросы, обычно оставляемые за рамками литературных публикаций, но представляющие практический интерес: обоснование выбора параметров оптических деталей, требования к юстировке и т. д. Из-за ограниченности объёма книги не описаны конструкции интерферометров и лишь кратко рассмотрены методики работы с ними…

ПРЕДИСЛОВИЕ

ОГЛАВЛЕНИЕ

Предисловие3
 
Глава I. Общие сведения об интерференции света5
§ 1. Основные понятия и величины
§ 2. Когерентность8
§ 3. Интерференция от двух когерентных источников света9
Ширина и форма интерференционных полос (10). Разделение световой волны по фронту (12). Разделение световой волны по амплитуде (13).
 
Глава II. Интерференция в пластинах15
§ 4. Интерференция в плоскопараллельной пластине
Вычисление разности хода лучей в пластине (15). Получение колец равного наклона (16). Зависимость контрастности полос от клиновидности пластины (19).
§ 5. Интерференция в клиновидной пластине20
Ход лучей в клиновидной пластине (20). Контрастность полос равной толщины при конечных размерах источника света (21). Плоскость локализации (22). Наблюдение картины вне плоскости локализации (26).
§ 6. Интерференция в пластине, ограниченной сферическими поверхностями28
Получение колец Ньютона (28). Измерение радиусов кривизны поверхностей (29).
§ 7. Многолучевая интерференция в пластинах30
Интенсивность проходящего света (31). Интенсивность отражённого света (31).
§ 8. Интерференция в двух пластинах33
Получение полос равного наклона в белом свете (34). Измерение разности толщин пластин (36).
 
Глава III. Особенности интерференции в белом свете. Компенсаторы37
§ 9. Общие сведения
§ 10. Неравенство толщин стекла на пути интерферирующих лучей39
Компенсация стекла воздухом (39). Получение ахроматической полосы (41). Требования к плоскопараллельности оптических деталей (42).
§ 11. Компенсация неравенства толщин стекла введением стекла другого сорта43
Получение ахроматической полосы нулевого порядка (44). Получение апохроматической полосы (45).
§ 12. Измерительные и котировочные стеклянные компенсаторы46
Компенсаторы с поворотными пластинами (46). Двухклиновой компенсатор (47). Ахроматический компенсатор (49). Апохроматический компенсатор (51).
 
Глава IV. Оптические схемы и особенности основных типов интерферометров52
§ 13. Интерферометры, оптические схемы которых могут быть сведены к одной воздушной пластине
Интерферометр Физо (52). Интерферометр Майкельсона (52). Эталон Фабри и Перо (58).
§ 14. Интерферометры с двумя пластинами61
Интерферометр Жамена (61). Интерферометр Цендера-Маха (65).
§ 15. Интерферометры френелевского типа68
Интерферометр Релея (68). Звёздный интерферометр Майкельсона (72). Звёздный интерферометр Линника (75).
§ 16. Голографические интерферометры75
 
Глава V. Причины понижения контрастности интерференционной картины81
§ 17. Уточнение определения контрастности
Контрастность по полю и в данной точке поля (81). Измеренное и истинное значения контрастности (82).
§ 18. Немонохроматичность источника света84
Две узкие спектральные линии (84). Одна широкая спектральная линия (84).
§ 19. Неравенство интенсивностей интерферирующих пучков лучей и наличие рассеянного света87
§ 20. Различие состояний поляризации интерферирующих пучков лучей89
Интерференция естественного луча с лучом линейно-поляризованным (89). Интерференция двух линейно-поляризованных лучей (90).
§ 21. Зависимость контрастности от размеров источника света93
Аналогия между клиновидной пластиной и зеркалами Френеля (94). Сдвиг полос в случае толстой клиновидной пластины (95).
§ 22. Непараллельность интерферирующих пучков лучей98
§ 23. Деформации волновых поверхностей102
Волна W2 сферической формы (103). Волна W2 цилиндрической формы (103). Волна W2 с местными отступлениями от плоскости (105).
§ 24. Неправильная установка диафрагм107
 
Глава VI. Требования к оптическим и механическим узлам интерферометров114
§ 25. Дифференциация требований к узлам интерферометров разных типов114
Принцип устройства интерферометра (114). Назначение интерферометра (114). Расстояние от оптического узла интерферометра до поля интерференции (116). Основные и вспомогательные оптические детали (117).
§ 26. Требования к качеству изготовления основных оптических деталей117
Поверхности зеркал и пластин (117). Толщина и клиновидность оптических деталей (123). Стекло оптических деталей (125).
§ 27. Требования к точности установки основных оптических деталей126
Смещение деталей вдоль оптической оси (126) Смещение деталей в направлениях, перпендикулярных к оптической оси (127). Поворот зеркал интерферометра (129).
§ 28. Требования к коллиматору и к приёмной части интерферометра130
Роль расфокусировки коллиматора (130). Роль дисторсии приёмной части интерферометра (132).
§ 29. Требования к механическим узлам134
Жёсткость конструкции (135). Изменения температуры (135). Регулирующие устройства (137).
§ 30. Юстировка интерферметров и работа с ними140
Этапы юстировки (140). Способы измерения смещения и искривления полос (143).
 
Глава VII. Интерферометры для измерения длин146
§ 31. Общие сведения
§ 32. Уникальные интерферометры для измерения больших штриховых и концевых мер длины148
Эталонная интерференционная установка ВНИИМ (148). Универсальный интерферометр ВНИИМ (150).
§ 33. Интерферометры для абсолютных измерений длины концевых мер153
Интерферометр Кестерса (153). Интерферометр NPL (157). Интерферометр фирмы «Хильгер-Ваттс» (158).
§ 34. Интерферометры для относительных измерений длины концевых мер160
Технический интерференционный метод (160). Контактные интерферометры (162). Двойной контактный интерферометр (163). Интерферометр Карташева (163). Интерферометр ИКМ-10 (164).
§ 35. Интерферометры для измерения наружных размеров деталей167
Многолучевой интерференционный микроскоп МИИ-11 (167). Интерференционный способ измерения диаметров шариков и цилиндров с помощью стеклянных пластин (169). Интерферометр ИЗК-57 для измерения диаметров щариков и цилиндров (170).
§ 36. Интерферометры для измерения внутренних размеров деталей 173
Интерференционный метод измерения диаметров отверстий в прозрачных кольцах с помощью аттестованных пробок (174). Интерференционный нутромер для бесконтактных относительных измерений диаметров отверстий от 8 до 30 мм (175). Интерференционный нутромер ИГ-88 для относительных измерений диаметров отверстий от 5 до 12 мм (178). Абсолютные методы измерений (182).
§ 37. Интерференционные индикаторы для измерения малых перемещений184
Бесконтактный интерференционный индикатор удвоенной чувствительности (185). Двойной интерферометр (188).
§ 38. Лазерные интерферометры для измерения больших перемещений189
Принципиальные схемы (189). Интерферометр фирмы «Браун Бовери» (191). Интерферометр ИПЛ (192). Интерферометр фирмы «Катлер-Хаммер» (193) Интерферометр фирмы «Хьюлет-Паккард» (193).
 
Глава VIII. Интерферометры для контроля формы и микрогеометрии поверхностей195
§ 39. Интерферометры для контроля плоскостей
Метод пробного стекла (195). Применение интерферометров типа Физо (197) Интерферометр ИКП-100 удвоенной чувствительности (198). Голографические интерферометры (199). Фотоэлектрические способы (200). Интерферометры для контроля прямолинейности профиля больших поверхностей (201).
§ 40. Интерферометры для контроля сферических поверхностей204
Сферические пробные стёкла (204). Интерферометры для бесконтактного контроля поверхностей среднего диаметра (205). Неравноплечий лазерный интерферометр для контроля больших вогнутых поверхностей (210). Интерферометры для контроля сферических поверхностей малого диаметра (212).
§ 41. Интерференционные методы и приборы для контроля поверхностей сложной формы215
Применение пробных стёкол и интерферометров для контроля сферических поверхностей (215). Методы контроля поверхностей произвольной формы (216). Контроль поверхностей второго порядка (218). Контроль цилиндрических поверхностей (220). Контроль торических поверхностей (223).
§ 42. Микроинтерферометры225
Микроинтерферометр Линника (225). Контрастность интерференционной картины (228). Условия получения прямых полос (229). Роль апертуры микрообъективов (231). Однообъективный микроинтерферометр Захарьевского (233). Другие методы контроля шероховатости (234).
§ 43. Микропрофилометры235
Микропрофилометр с цилиндрической линзой (236). Расчёт фокусного расстояния и положения цилиндрической линзы (237). Допустимая ширина щели (238). Влияние неточностей изготовления и установки оптических деталей на контрастность и форму полос (239). Микропрофилометр для контроля шероховатости внутренних поверхностей деталей (240). Микропрофилометр со спектральной насадкой (243). Микропрофилометр пониженной чувствительности (244).
 
Глава IX. Интерферометры прочих назначений245
§ 44. Интерферометры для исследования оптических систем
Интерферометр Тваймана (245). Метод Линника (247). Метод Цернике (248).
§ 45. Интерферометры для измерения показателя преломления вещества249
Интерферометры по схеме Релея (249). Интерферометры по схеме Жамена (251). Измерение показателей преломления твёрдых тел (253).
§ 46. Интерферометры для исследования неоднородностей в прозрачных объектах253
Интерферометр Майкельсона-Тваймана (254). Интерферометр Цендера-Маха (254) Интерферометры сдвига (255). Голографический интерферометр (257) Интерферометр последовательного типа (259).
§ 47. Интерференционные микроскопы для исследования прозрачных микрообъектов261
Интерференционный биологический микроскоп МБИН-4 (261). Двухфокусный интерференционный микроскоп (262). Интерференционный микроскоп с обратно-круговым ходом (264).
 
Глава X. Способы повышения чувствительности интерференционных методов измерения266
§ 48. Трёх- и четырёхлучевые интерферометры
Схема трёхлучевого интерферометра типа Релея (266). Трёхлучевой интерферометр Хунцингера (268). Четырёхлучевые интерферометры Харихарана и Сена (270).
§ 49. Визуальные двухлучевые интерферометры повышенной чувствительности273
Двухлучевой интерферометр с двойным прохождением лучей (273). Схема Рентча (275). Зеркальные устройства с многократным отражением (275).
§ 50. Фотоэлектрические методы измерения изменений разности хода277
Модуляционный метод измерения малых разностей хода (277). Методы наведения на ахроматическую полосу (280).
 
Список литературы285

Книги на ту же тему

  1. Методы контроля оптических асферических поверхностей, Пуряев Д. Т., 1976
  2. Оптические телескопы будущего, Пачини Ф., Рихтер В., Вильсон Р., ред., 1981
  3. Инфракрасные методы в космических исследованиях, Манно В., Ринг Д., ред., 1977
  4. Практика оптической измерительной лаборатории, Кривовяз Л. М., Пуряев Д. Т., Знаменская М. А., 1974
  5. Оптические приборы для измерения линейных и угловых величин в машиностроении (Справочная книга), Коломийцов Ю. В., Духопел И. И., Инюшин А. И., Артемьев И. В., 1964
  6. Механические устройства малых оптических систем, Шарловский Ю. В., 1979
  7. Диффузия и вязкость полимеров. Методы измерения, Малкин А. Я., Чалых А. Е., 1979
  8. Тонкие плёнки, их изготовление и измерение, Метфессель С., 1963
  9. Экспериментальная механика: В 2-х книгах (комплект из 2 книг), Кобаяси А., ред., 1990

Напишите нам!© 1913—2013
КнигоПровод.Ru
Рейтинг@Mail.ru btd.kinetix.ru работаем на движке KINETIX :)
elapsed time 0.023 secработаем на движке KINETIX :)